デバイ-シェラー法(読み)デバイシェラーホウ

  • Debye-Scherrer method

化学辞典 第2版の解説

微小な結晶粉末,あるいは金属のような微小結晶の集合体によるX線回折写真撮影法.P.J.W. Debye(デバイ),P. ScherrerおよびA.W. Hullが考案した.単色X線を配向していない結晶性粉末試料に射すると,結晶粒はあらゆる方向に向いているため,ブラッグ条件を満足する網面は必ず多数存在し,θ1θ2,…などの円すい面上に生じる.したがって,入射X線に垂直に写真フィルムを置くと,入射X線の当たった点を中心とするいくつかの同心円として回折線が記録される.このような回折図形をデバイ写真または粉末写真といい,個々の回折環をデバイ-シェラー環という.一般には,試料を中心にした円筒フィルムを使用する.集中法X線カメラは,能率的に質のよい回折図形を得るために工夫されたものである.ブラッグ角が90°に近い回折線を背面反射法で記録すると,格子定数をきわめて精密に(1/3000 nm)求めることができる.現在では,この回折線を観察するために自動X線回折計が用いられることが多く,一部の簡単な物質の構造解析にも使われるが,未知試料の同定や分析にもっともよく利用される.なお,この方法は電子線回折でも用いられる.

出典 森北出版「化学辞典(第2版)」化学辞典 第2版について 情報

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