世界大百科事典（旧版）内の電界顕微鏡の言及
【電子放出】より
…もし電界が十分大きくて，表面障壁の厚みが1nm程度になると，金属内の電子がトンネル効果によって障壁を通り抜け真空外に飛び出る確率が十分な大きさになり，電界放出が観測できるようになる。 電界放出の応用として電界顕微鏡(FEM。field emission microscopeの略)が1936年にE.W.ミュラーによって発明された。…
※「電界顕微鏡」について言及している用語解説の一部を掲載しています。
出典｜株式会社平凡社「世界大百科事典（旧版）」
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