最新 地学事典 「原子間力顕微鏡法」の解説
げんしかんりょくけんびきょうほう
原子間力顕微鏡法
atomic force microscopy
走査型プローブ顕微鏡の一つである原子間力顕微鏡を用いる顕微鏡法。原子スケールでの表面構造を計測できる。カンチレバーに取り付けた先端が尖った探針を試料表面をなぞるように動かし，表面の形状を調べる。探針が試料表面からの引力または斥力によりたわむため，カンチレバーの上下変位をレーザーで測定することにより試料表面の形状を評価する。原子スケールの分解能で，導電性や性を問わずあらゆる固体を大気中，真空中，液中で測定できる。
執筆者：小西 博巳
出典 平凡社「最新 地学事典」最新 地学事典について 情報
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