X線トポグラフィー（読み）エックスせんトポグラフィー

最新 地学事典

エックスせんトポグラフィー
X線トポグラフィー

X-ray topography

X線による結晶内部組織の観察法の一種。面間隔dのあるブラッグ面に平行な結晶板にX線を照射すると，Braggの式，2dsinθ＝nλの関係に従ってX線は回折する。結晶内に転位・双晶面などの原子配列の乱れや変化がある所では，X線は上記の式によって回折を起こす所と起こさない所が生じる。それはフィルム上に濃淡となって現れる。結晶をフィルムと平行に移動させると，結晶内のさまざまな原子配列の乱れや歪みはフィルムに投影され記録される。ときには成長縞も記録される。

執筆者：秋月 瑞彦

出典　平凡社「最新 地学事典」