最新 地学事典 「制限視野電子線回折」の解説
せいげんしやでんしせんかいせつ
制限視野電子線回折
selected area electron diffraction
SAEDと略称。透過電子顕微鏡観察で，目的とする結晶性試料の像のみを制限視野絞りの中に入れ他を絞りの外に締め出し，この状態のまま制限視野モードに変えると，中間レンズの電流値が変化し，この像のみからの回折像が得られ，この回折法のことをいう。対物レンズの後焦点面，つまり対物絞り位置に試料のフーリエ変換である回折像ができ，さらに制限視野絞りの位置に一次の像ができていて（逆フーリエ変換に相当），光線図により目的の試料だけからの回折像が抽出できることが説明できる。結晶性試料研究に重要な手法。
執筆者：赤井 純治
出典 平凡社「最新 地学事典」最新 地学事典について 情報
Sponserd by 