最新 地学事典 「定方位薄片」の解説
ていほういはくへん
定方位薄片
oriented thin section
構造岩石学において，ファブリックの解析に用いられる薄片。通常，座標系として面構造・線構造を基準とし，面構造をXY面（またはab面），線構造をX（またはb）とし，面と垂直な方向をZ（またはc）とする。定方位試料の採取方法は，岩石の任意の面（面構造が出ていないときは露頭面や節理面）に北側の矢印を記した走向と傾斜記号およびそれらの角度を書き入れて採取する。姿勢を書き入れた面が二つ以上あると，実験室でより正確な復元ができる。定方位試料の面構造が出ていない場合は，切断してその面構造を出し，その上の線構造を測定する。その後，目的に応じてXY, YZ, XZのどれかの面に沿って切断し，定方位薄片を作製する。マイロナイトなどの剪断を受けた岩石の場合，運動論的指標はXZ薄片（bc薄片）で観察できる。
執筆者：高木 秀雄
出典 平凡社「最新 地学事典」最新 地学事典について 情報
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