走査型オージェ電子顕微鏡(読み)そうさがたオージェでんしけんびきょう

最新 地学事典 の解説

そうさがたオージェでんしけんびきょう
走査型オージェ電子顕微鏡

scanning auger electron microscope

オージェ電子分光法(AES: auger electron spectroscopy)は,試料に電子線を照射したときに放出されるオージェ電子(原子内殻電子が励起された際,外殻から放出される電子)のエネルギーを測定し,試料表面の元素組成および元素分布を得る分析手法である。これに電子線走査(電子線を用いて試料面内をスキャンする)の機能を備えたものが走査型オージェ電子顕微鏡と呼ばれている。真空中で測定対象に電子線またはX線を照射し,放出されるオージェ電子の速度を原子固有の束縛エネルギーを用いて計算して,元素の検出と分析が行われる。同時に複数の元素分析が可能である。

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参照項目:走査型電子顕微鏡

出典 平凡社「最新 地学事典」最新 地学事典について 情報

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