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走査型電子顕微鏡 そうさがたでんしけんびきょう scanning electron microscope

翻訳|scanning electron microscope

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ブリタニカ国際大百科事典 小項目事典の解説

走査型電子顕微鏡
そうさがたでんしけんびきょう
scanning electron microscope

高真空装置内で,きわめて細く絞った電子ビームで試料表面を走査し,試料からの二次反射あるいは透過電子線の強弱を,走査電子ビームと同期に走査している観察用ブラウン管のケイ光の強弱に変換して観察する顕微鏡

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出典|ブリタニカ国際大百科事典 小項目事典
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デジタル大辞泉の解説

そうさがたでんし‐けんびきょう〔‐ケンビキヤウ〕【走査型電子顕微鏡】

電子顕微鏡の一。試料を電子線で走査し、試料から出る二次電子などを検出することで試料表面の観察を行う。光学顕微鏡に比べ、表面の立体構造の観察に適している。細胞のような生体試料の場合は、あらかじめ金や白金パラジウムなどを蒸着する必要がある。SEM(セム)(scanning electron microscope)。

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栄養・生化学辞典の解説

走査型電子顕微鏡

 →走査電子顕微鏡

出典|朝倉書店
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大辞林 第三版の解説

そうさがたでんしけんびきょう【走査型電子顕微鏡】

試料に電子ビームを当て、表面から放出された二次電子をとらえてブラウン管上に表示する電子顕微鏡。走査電子顕微鏡。SEM(セム)。

出典|三省堂
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