最新 地学事典 「XAFS」の解説
ザフス
XAFS
X-ray Absorption Fine Structureの略。X線吸収スペクトルにおいて，X線吸収端の近傍から高エネルギー側数百～1,000eVの範囲に現れる構造のこと（X線吸収微細構造）。このうち，吸収端近傍の微細構造をXANES（ゼインズまたはザーネス），吸収端より高エネルギー側の微細構造をEXAFS（イグザフスまたはエグザフス）と呼ぶ。XANESとEXAFSでは吸収スペクトルの発生原理が異なるが，いずれも原子の結合状態や配位状態に関する情報を有する。XAFSの代表的な分析方法には吸収法と蛍光法の２つがある。XAFSは結晶だけでなく，アモルファスや液体の試料でも分析でき，マイクロビームを用いることで数～数十ミクロン程度の局所構造分析も可能である。また，軽元素から重元素までターゲットとなる元素を選択でき，主成分ではない元素についても分析できるという利点がある。
執筆者：石橋 秀巳・栗林 貴弘
参照項目：XANES（ゼインズ）
出典 平凡社「最新 地学事典」最新 地学事典について 情報
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