X線回折法（読み）Xせんかいせきほう/えっくすせんかいせきほう（英語表記）X‐ray diffraction method

知恵蔵

X線回折法

X線回折を用いて、結晶内の原子配列を解析する方法。結晶内は原子・分子が対称性を持って周期的に並んだ格子構造をとり、波長の短いX線を当てると、方向により強度が異なる像が得られる(回折像)。これを解析すると、原子の配列や分子の形がわかる。原子核による散乱である中性子線回折は、水素原子の正確な位置決定に用いる。気体・液体からの回折像からは平均的な原子間距離が得られ、電子線回折も用いられる。

(市村禎二郎 東京工業大学教授 ／ 2007年)

出典　(株)朝日新聞出版発行「知恵蔵」