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X線回折投影法 エックスせんかいせつとうえいほうX-ray diffraction topography

ブリタニカ国際大百科事典 小項目事典の解説

X線回折投影法
エックスせんかいせつとうえいほう
X-ray diffraction topography

X線の結晶による回折現象 (→X線回折 ) を用いて結晶の局所的な乱れを観察する方法で,X線回折顕微法ともいう。微小X線源から出た単色X線をスリットを通して試料に当て,特定の結晶格子面からの回折だけが生じるようにする。さらにX線フィルムとの間にスリットを置いて回折X線のみがフィルムに達するようにして,試料の広い範囲を調べられるように試料とフィルムを同時に徐々に動かす (ラングの方法) 。結晶格子に乱れがあると回折X線の強度が変り,コントラストが得られる。像の分解能は最高1μm程度なので,数の少い転位などの格子欠陥の観察に適している。像の記録には,通常は微粒子で膜の厚い乳剤をもつ原子核乾板が用いられる。

出典|ブリタニカ国際大百科事典 小項目事典ブリタニカ国際大百科事典 小項目事典について | 情報

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