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X線回折投影法 エックスせんかいせつとうえいほう X-ray diffraction topography

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ブリタニカ国際大百科事典 小項目事典の解説

X線回折投影法
エックスせんかいせつとうえいほう
X-ray diffraction topography

X線の結晶による回折現象 (→X線回折 ) を用いて結晶の局所的な乱れを観察する方法で,X線回折顕微法ともいう。微小X線源から出た単色X線をスリットを通して試料に当て,特定の結晶格子面からの回折だけが生じるようにする。

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出典|ブリタニカ国際大百科事典 小項目事典
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