小角散乱 (しょうかくさんらん)
small angle scattering
X線が10~3000Åくらいの大きさの微粒子を通過するとき,入射X線ときわめて小さい角度(通常1度以下)範囲に散漫な回折像や,ときには明らかな回折環を生じる。この現象をX線小角散乱または単に小角散乱という。また普通の結晶でも,長い周期をもつ物質のブラッグ反射はこの角度範囲にあらわれる。小角散乱による回折像を調べることによって,結晶のもつ非常に長い周期性の測定ができたり,微粒子の大きさ,形状,集合状態についての知識が得られる。小角散乱を観測するには,非常に細く平行度の良い単色X線束をつくり,試料のきわめて薄い層を通過させ,その直後に入射X線を遮へいする楯を置き,試料によって散乱されたX線のみを写真フィルムまたは計数管を用いて測定する。この方法は,コラーゲン,絹フィブロインなどの長周期構造,繊維,合成樹脂類,無機・有機のコロイド,粘土など数多くの研究に利用されている。
執筆者:松本 和子
出典 株式会社平凡社「改訂新版 世界大百科事典」改訂新版 世界大百科事典について 情報
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小角散乱
ショウカクサンラン
small angle scattering, low angle scattering
単色X線の物質による散乱で,とくに3°くらいまでの小さな前方への散乱角で生じるものをいう.単位格子の大きい結晶でも小角で回折は生じるが,これは本来の意味の小角散乱ではない.非常に微細な1ないし200 nm の大きさの粒子か,あるいは物体内にこの程度の大きさの密度の不均一な領域が多数存在するような物質中をX線が通過すると,小角領域に散漫な回折像を生じる.この散乱は粒子の内部構造については知見を与えないが,強度分布を解析すると散乱体の大きさ,形状,集合状態,大きな周期などを知ることができる.溶液中のコロイド粒子,合成高分子や生体高分子の大きさや形状の研究,高分子内の結晶子の大きさや形状についての研究,さらには合金相の研究などに必要な方法である.入射X線のすぐ近くの小角領域の弱い散乱強度を精密に測定するために,X線の光学系やカメラなどの装置にはいろいろな工夫が必要である.
出典 森北出版「化学辞典(第2版)」化学辞典 第2版について 情報
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しょうかくさんらん
小角散乱
small-angle scattering
密度の異なる微細な領域が存在する物質にX線を照射したときに,その微粒子の形,大きさなどに対応して入射X線方向から連続して小さな角度範囲に生ずる散漫散乱。2~200nm程度の大きさの粒子に対しては0~5°くらいの範囲に観測される。高分子物質,無機コロイド,金属組織などの研究に利用される。
執筆者:丸茂 文幸
出典 平凡社「最新 地学事典」最新 地学事典について 情報
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