日本大百科全書(ニッポニカ) 「走査型トンネル顕微鏡」の意味・わかりやすい解説
走査型トンネル顕微鏡
そうさがたとんねるけんびきょう
scanning tunnelling electron microscope
略称STM。試料表面に鋭くとがった針を1000分の1マイクロメートル以下に近づけて、針と試料の間に流れるトンネル電流が一定になるようにし、原子レベルの極微な位置情報を電気的または機械・光学的に取り出し、コンピュータ処理により立体像をつくる顕微鏡。プローブ（針）は圧電素子で駆動され、電圧により上下左右に微細に走査できる。金属表面に吸着された原子や分子、高温超伝導体や半導体結晶の表面構造、DNAの二重螺旋(らせん)、ウイルスの構造などの観察が可能である。
針のかわりに微細なカンチレバーを利用した原子間力顕微鏡（AFM）は絶縁物表面や高分子材料の構造のほか、吸着力や摩擦力、磁力などの観察が可能である。また、観察対象に応じたプローブによってフォトンSTM（PSTM）、トンネル音響顕微鏡（TAM）、走査型イオン伝導顕微鏡（SICM）などが開発され、STMとともにナノテクノロジーの主要機器を構成している。
［岩田倫典］
『西川治編著『走査型プローブ顕微鏡』（1998・丸善）』
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